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产品型号：40A-GSG-150-DP
更新时间：2026-06-29
厂商性质：代理商
访问量：25
服务热线86-022-22114668
产品介绍
美国 GGB Model 40A 高性能微波探针
美国 GGB Model 40A 高性能微波探针
一、产品概述
Model 40A 高性能微波探针可搭配三种不同转接底座使用，依托同轴结构，是射频晶圆测试领域级探针，覆盖直流至 40GHz 全频段测试，适配各类微波探针台、探针卡、多触点楔块，广泛用于半导体、射频芯片、激光二极管、陶瓷基板高频测量。
二、核心产品特性
耐用可靠
测试频段：DC～40GHz
插入损耗：≤0.8dB
回波损耗：＞18dB
测量重复性：-80dB
独立弹性弹片触点，单点独立缓冲
可选铍铜 / 钨合金探针针尖
针尖间距（节距）50～1250 微米可定制，超 1250 微米可特殊定制
支持多种针尖布局方案
同轴结构优势
Model 40A 搭载低损耗同轴设计，大幅优化 40GHz 频段射频性能：标准款插入损耗低于 0.8dB、回波损耗高于 18dB，打破传统共面探针性能上限。
针尖采用独立弹性铍铜触点，可选耐磨钨合金针尖，即便测量非平面器件也能形成稳定低阻接触，保障测量重复性；探针针尖可视设计，定位精准，便于 LRM 校准操作。
三、安装适配方案
可装配多款标准转接底座，适配通用微波探针台；也可搭配薄型刀座，用于探针卡直流针、多触点楔块组合测试，支持定制专属安装座。
针尖布局可选：地 - 信号 - 地（GSG）、地 - 信号（GS）、信号 - 地（SG），推荐小间距 GSG 布局以获得射频性能。
接口标配 K 型母头，兼容 3.5mm、SMA 连接器。
四、弹性针尖设计，适配复杂测试面
每支探针均配备独立弹性针尖：
弹性缓冲避免划伤被测电路，延长探针使用寿命；
适度下压可自动清洁接触面灰尘、氧化层，形成稳定无干扰接触；
可视针尖精准对位，轻松完成高精度 LRM 校准；
可测量陶瓷基板、激光二极管等非平面器件。
五、微型同轴传输结构，提升高频性能
探针至连接器采用精密 50Ω 微型同轴线缆，相比共面结构辐射更小、损耗更低；线缆采用柔性铍铜材质，大幅提升探针耐用度。
六、探针卡 & 多触点楔块配套方案
Model 40A 可装配标准 4.5 英寸探针卡、定制尺寸探针卡，以及专属多触点楔块，适配手动 / 全自动探针台晶圆高频测试。
Picoprobe 探针卡与多触点楔块可混合搭载 40/50/67/110GHz 射频探针 + 直流针，分别负责射频信号、供电与低频信号同步测试。
七、全系列微波探针产品线
Model 40A 拓展定制选项
定制转接底座，同轴线缆可弯折适配狭小空间；
特殊针尖布局，适配非平面、非对称接地器件；
钨合金耐磨针尖；高温款 40AHT；信号端集成串联 / 终端电阻；
更高频段机型
测试频率高于 40GHz 可选 Model 50A/67A/110A/H，覆盖 DC～110GHz；
波导输入探针系列
Model 50/75/90/120/140/220，可选集成偏置 T 型件，用于有源器件测试。
八、企业定制服务能力
GGB 拥有定制探针研发与生产能力，可针对各类高难度测试需求提供专属解决方案；同时供应高阻抗有源探针，输入电容 0.02pF，最高带宽 3GHz。
九、核心性能参数
1. GSG（地 - 信号 - 地）布局（P 型标准款，50–300μm 节距）
频段：DC～40GHz
插入损耗：40GHz 内≤1.0dB（典型 0.7dB）
回波损耗：≤4GHz 优于 30dB（典型 35dB）；≤26GHz 优于 20dB（典型 23dB）；≤40GHz 优于 18dB（典型 20dB）
串扰：40GHz 内＜38dB
*C/T 型底座插入损耗≤1.2dB（典型 0.9dB），其余参数一致
* 串扰测试条件：两支探针间距 100μm 接触裸蓝宝石基板
2. GS/SG 布局（P 型标准款）
频段：DC～40GHz
插入损耗：40GHz 内≤2.0dB（典型 1.6dB）
回波损耗：≤4GHz 优于 30dB
十、型号命名规则（订货规范）
格式：40A - 布局 - 节距 - 底座型号
布局：GSG / GS / SG（S = 信号针，G = 接地针）
节距：单位微米，50～1250μm；超宽间距需联系工厂定制
底座型号：共 13 种标准底座 T/C/GR/P/DP/EDP/LP/Q/F/S/DS/VP/RVP
P/DP/EDP/LP/Q/S/DS/VP/RVP：连接器 45° 向后倾斜，预留上方操作空间
DP/EDP/DS/VP/RVP：探针下方预留更大避空高度；DP/EDP/DS 下压行程更长，定位难度略高
示例：40A-GSG-150-P = Model40A、GSG 三针布局、150 微米节距、P 型转接底座
GGB Industries（Picoprobe）品牌简介
一、品牌发展历程
GGB Industries 创立于 1980 年，旗下 Picoprobe® 微波与示波器探头系列深耕全球半导体晶圆探测市场。品牌初期推出高阻抗故障排查探头，用于逻辑、存储芯片内部诊断；1988 年自研 50Ω 共面柔性针尖同轴微波探针，革新晶圆微波探测技术；1992 年推出高性能 W 波段毫米波探头，奠定全球微波探针龙头地位。品牌核心优势：精密制造工艺、超高探测精度、客户服务、定制化测试解决方案。
二、Picoprobe 核心优势
极小体积：适配高密度微电子芯片，狭小空间测试，无电路干扰；
超高精度：支持纳米级信号检测，稳定捕捉高频、微弱电信号，测量数据精准；
无损探测：非侵入式接触芯片表面，不损伤被测器件。
三、核心应用领域
半导体（核心场景）
集成电路测试（处理器、存储器等各类 IC）、芯片故障定位与根源诊断，提升芯片可靠性、缩短故障排查周期；
拓展行业
光电子（光栅、光电耦合器、光电传感器检测）、纳米科技（纳米尺度电学、表面特性观测）、生物医学（细胞 / 组织高分辨率成像与特性分析）。
四、主营产品
Picoprobe 高阻抗有源探头、微波测试探针、探针卡、直流一次性探头等。
五、全系列主要型号
7-10、7-22、7-35、7-60、7-125、7-175、12C-1-10、12C-1-22、12C-1-35、12C-1-60、12C-1-125、12C-2-10、12C-2-22、12C-2-35、12C-2-60、12C-2-125、12C-4-10、12C-4-22、12C-4-35、12C-4-60、12C-4-125、34A-4-10、34A-4-22、34A-4-35、34A-4-60、34A-4-125、35-1-10、35-1-22、35-1-35、18C-1-10、18C-1-20、18C-1-50、18C-2-10、18C-2-20、18C-2-50、18C-4-10、18C-4-20、18C-4-50、28-5-10、28-5-20、28-5-50、10-500-60-W-2-R-120、A40A-GSG-150-P、40A-GS-150、40A-GSG-150-D-300、40M-GSG-xxx-PLL、67A-GSG-150-P、110H-GSG-100-P、75-GSG-100-BT、90-GSG-150-BT、120-GSG-150-BT、140-GSG-100-BT、170BT-M、220-BT-M、T-4-10、T-4-22、T-4-35、T-4-60、T-4-125
